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一张银光闪闪的单晶圆片放在显微镜托盘上,借着光线反射,可以看到单晶片上一个个比8分钱邮票还略小一点的长方形块状斑痕。
在显微镜下,这些瘢痕被放大,显出真容,纵横交错的密集电路和元器件出现在眼前。
郭逸铭慢慢地调节着焦距,将局部电路放大,一点一点地对试运行生产的芯片进行仔细检查。为了实际检验各流程的工艺水平,他们这次试运行特意根据工艺流程的步骤,试制了一大批芯片。每一个流程在制备完成之后,都留下一张半成品晶圆片,作为对比观察的样品,并为以后进一步改进工艺流程、改造设备积累数据。
他看了一阵子,眼睛移开镜头,长时间注目让他的眼睛觉得胀痛。
“掩膜的制备能力还是不行,分辨率还是不够……”
“光学聚焦和透镜制作距离国际水平差距仍很大,看线宽边缘的扩散范围,显然是为了增大曝光率,提升能量之后出现的必然结果……”
“铜互连工艺基本达到了工艺要求,比之目前国际上采用的铝互连降低了三分之一的尺寸。采用化学刻蚀成本低,大批量生产看来不是问题……,不过化学刻蚀的极限也就到此为止了,以后还是要将精力集中在如何采用激光刻蚀、离子注入等改进上来……”
他的大脑飞速运转,针对这批试运行制备的芯片细节观察,构思未来的科研发展方向。他心中有着一个总体的发展规划,但在细部上,却仍要根据现实不断做出调整,以选择最佳的发展方向,争取以最短的时间,赶上、并最终超越国外水准。
但就目前来看,这还是一个漫长的过程。
这次设备改造的耗时是很长的、花费是巨大的。工艺技术提升也没等级上的改进,基本还是沿用了国内已经掌握的成熟工艺。最主要的改变,是通过众多的传感器、自动化控制部件,将大量原来依靠手工操作的步骤,交给了自动化设备来实现。
虽然他对光刻机作出了改进,跳过国外的发展顺序,没有按部就班制造扫描式光刻机,一下子跨越到更先进的步进式扫描光刻机,但限于国内光学技术、电子技术的不足,掩膜版的制造精度、光刻机的光刻效果依然对整体工艺提升造成了严重阻碍。
但郭逸铭对此却有着清醒地认识,没有好高骛远,奢求更大目标。所以他对目前的成果,已经非常满意。
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